大家知道，大多數(shù)電子產(chǎn)品做ce認(rèn)證基本都強(qiáng)制進(jìn)行EMC測(cè)試，目的就是保證產(chǎn)品不能對(duì)所處的電磁環(huán)境造成不可接受的影響，同時(shí)也希望產(chǎn)品能在某些電磁環(huán)境中能正常可靠工作。EMC測(cè)試項(xiàng)目包括EMI(電磁干擾)測(cè)試和EMS(電磁抗干擾)測(cè)試。

電子產(chǎn)品CE認(rèn)證

　　1 EMI測(cè)試項(xiàng)目包括：

　　1、Radiated Emission －輻射擾測(cè)試

　　測(cè)試通過(guò)空間傳播的電磁能量。

　　2、Conducted Emission－傳導(dǎo)擾測(cè)試

　　測(cè)試沿電源線、控制線或信號(hào)線的電磁能量。

　　3、Harmonic－諧波電流擾測(cè)試

　　主要測(cè)量EUT工作時(shí)注入到電網(wǎng)中的諧波。

　　4、Flicker－電壓變化和閃爍測(cè)試

　　2 EMS測(cè)試項(xiàng)目包括：

　　1、ESD－靜電抗擾度測(cè)試

　　模擬操作人員或物體在接觸設(shè)備時(shí)的放電以及人或物體對(duì)鄰近物體的放電。

　　2、RS－射頻電磁場(chǎng)輻射抗擾度測(cè)試

　　測(cè)試被試設(shè)備對(duì)空間電磁擾的抗擾性。

　　3、CS－射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)擾抗擾度測(cè)試

　　測(cè)試被試設(shè)備對(duì)沿電源線、控制線或信號(hào)線傳輸?shù)碾姶拍芰康拿舾卸取?/p>

　　4、DIP－電壓暫降，短時(shí)中斷和電壓變化抗擾度測(cè)試

　　模擬由低壓、中壓或高壓網(wǎng)絡(luò)中的故障所造成（短路或接地故障）的電壓瞬時(shí)跌落和中斷；以及有連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的電壓變化。

　　5、SURGE－浪涌（沖擊）抗擾度測(cè)試

　　模擬電網(wǎng)中的故障：雷擊（直接或間接）對(duì)設(shè)備的干擾，電網(wǎng)中的開關(guān)操作。放電波形為開路電壓1.2us/50us、短路電流8us/20us的脈沖。特點(diǎn)是上升時(shí)間慢（相對(duì)EFT/B）、持續(xù)時(shí)間較長(zhǎng)、能量大。

　　6、EFT－電快速瞬變脈沖群抗擾度測(cè)試

　　模擬對(duì)電感性負(fù)載的切換（如繼電器、接觸器）；對(duì)高壓開關(guān)的切換（如真空開關(guān)）設(shè)備的干擾。放電波形為5ns/50ns（上升沿5ns，半波時(shí)間50ns）的脈沖串，脈沖串持續(xù)時(shí)間15ms，脈沖周期為300ms。特點(diǎn)是上升時(shí)間快、持續(xù)時(shí)間短、能量低，但有較高的重復(fù)頻率。

　　7、PMS-工頻磁場(chǎng)抗擾度測(cè)試

　　以上就是億博檢測(cè)介紹的電子產(chǎn)品CE認(rèn)證EMC檢測(cè)項(xiàng)目等內(nèi)容